特許
J-GLOBAL ID:200903060019072230

金属部品の平面度測定及び磁気探傷方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三原 隆 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-254679
公開番号(公開出願番号):特開平5-060510
出願日: 1991年09月04日
公開日(公表日): 1993年03月09日
要約:
【要約】【目的】 金属部品の平面度測定と磁気探傷を連続した1工程で行い検査の合理化と精度向上をはかる。【構成】 回転自在に支持した金属部品(1)の被平面度測定面(1a)に対向してこの測定面の微小な変位を電圧で直読する渦電流式変位センサ(3)を配置するとともに、金属部品(1)の被探傷面に対向して被探傷面の表面あらさの周波数成分を検知する感磁性素子(4c)を備えている磁気探傷ヘッド(4)を配置して、金属部品(1)を回転させながら渦電流式変位センサ(3)による平面度測定と、磁気探傷ヘッド(4)による磁気探傷を連続して行う方法である。この磁気探傷終了時に被検査金属部品に生じる残留磁気を消すため、磁気探傷終了時点(P)で磁気探傷ヘッド(4)に供給する直流電流(DC)に代えて交流電流(AC)を供給し、この交流電流を漸次減衰させて脱磁する脱磁手段を付加する場合がある。
請求項(抜粋):
回転自在に支持した金属部品の被平面度測定面に、一定のギャップをもって該平面度被測定面の微小な変位を電圧で直読する渦電流式変位センサを対向配置するとともに、前記金属部品の被探傷面に、一定のギャップをもって該被探傷面の表面粗さの周波数成分を検知する感磁性素子を備えている磁気探傷ヘッドを対向配置して、前記金属部品を回転させることにより平面度測定と磁気探傷を連続的に行うことを特徴とする、金属部品の平面度測定及び磁気探傷方法。
IPC (5件):
G01B 7/34 102 ,  G01B 7/34 ,  G01N 27/83 ,  G01N 27/90 ,  G01B 7/00
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 特開昭54-049166
  • 特開昭60-224058
  • 特開昭52-149184

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