特許

J-GLOBAL ID：200903060022016286

光量検出式測距装置

発明者： 吉田 秀夫
出願人/特許権者： 富士写真光機株式会社
代理人 (1件)： 緒方 保人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-162915
公開番号（公開出願番号）：特開平8-334680
出願日： 1995年06月06日
公開日（公表日）： 1996年12月17日
要約：

【要約】【目的】 測距の誤差が小さくなり、オートフォーカス制御のフォーカスレンズの切替えが良好に行えるようにする。【構成】 投光素子10、受光素子14、定常光除去回路15、コンパレータ16、ラッチ回路17、レンズ繰出し回路18等を備えており、判定対象である所定距離の被写体からの反射光を受ける受光面位置で、その受光像が遠距離側において半欠けとなるように、上記受光素子14の受光面を配置する。これによれば、判定距離の測定において、基準反射率36%の反射光の判定のしきい値が半分となるが、その他の反射率の場合は、光量が距離の2乗に逆比例することから半分とはならず、反射率変化の影響は小さくなる。例えば、反射率が下がった場合は、判定距離よりも近距離側でその距離を判定する誤差が小さくなる。

請求項（抜粋）：

投光素子から被写体へ投光し、その反射光を受光素子で受光し、この反射光量を測定することにより、被写体の所定距離を判定する光量検出式測距装置において、判定対象である所定距離の被写体からの反射光を受ける位置で、その受光像が遠距離側において欠けるように、上記受光素子の受光面を配置したことを特徴とする光量検出式測距装置。

IPC (3件)：

G02B 7/32 ,  G01C 3/06 ,  G03B 13/36

FI (3件)：

G02B 7/11 B ,  G01C 3/06 A ,  G03B 3/00 A

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 測距装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-099719   出願人：キヤノン株式会社