特許

J-GLOBAL ID：200903060055018446

レーザ発光分光分析方法及びその装置

発明者： 酒井 稔 ,  山本 公
出願人/特許権者： 川崎製鉄株式会社
代理人 (1件)： 小杉 佳男 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-143453
公開番号（公開出願番号）：特開平8-015153
出願日： 1994年06月24日
公開日（公表日）： 1996年01月19日
要約：

【要約】【目的】レーザ照射用ランス先端と溶融物試料表面間の距離を自動的に調整しつつ分析するレーザ発光分光分析方法及びその方法の実施に利用できる装置の提供を目的としている。【構成】レーザ照射用ランスを介して、レーザ光を溶融物試料面に照射し、発生したプラズマの発光を分光させて得たスペクトル線の強度を測定して該溶融物試料中に含まれる元素を分析するレーザ発光分光分析方法において、上記溶融物試料面に超音波を別途照射し、その反射波を検出して該溶融物試料面高さを測定し、上記レーザ照射用ランス先端と溶融物試料面間の距離を一定に保つようにする。

請求項（抜粋）：

レーザ照射用ランスを介して、レーザ光を溶融物試料面に照射し、発生したプラズマの発光を分光させて得たスペクトル線の強度を測定して該溶融物試料中に含まれる元素を分析するレーザ発光分光分析方法において、上記溶融物試料面に超音波を別途照射し、その反射波を検出して該溶融物試料面高さを測定し、上記レーザ照射用ランス先端と溶融物試料面間の距離を一定に保つことを特徴とするレーザ発光分光分析方法。