特許
J-GLOBAL ID:200903060065392354

磁気探傷装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴江 武彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-234596
公開番号(公開出願番号):特開平5-072181
出願日: 1991年09月13日
公開日(公表日): 1993年03月23日
要約:
【要約】【目的】 回転状態の中空ロール内に磁化器および磁気センサを収納して走行状態の金属帯の欠陥を検出する磁気探傷装置において、欠陥規模および欠陥発生位置とともに欠陥の金属帯に対する有害度をも評価する。【構成】 金属帯の走行路を挟んでこの金属帯に接する一対の中空ロールを配設し、この各中空ロール内にそれぞれ磁気センサを配設している。そして、各磁気センサから得られた各漏洩磁束から金属帯の表面及び内部に存在する欠陥の欠陥規模と欠陥発生位置を算出する。さらに、有害度評価回路でもって、測定され欠陥規模および欠陥発生位置,板厚,金属種別情報から欠陥の金属帯に対する有害度を算出する。
請求項(抜粋):
金属帯の走行路に直交する支持軸に回転自在に支持され、前記走行路を挟んでこの走行路を走行する金属帯の上面および下面にそれぞれ接することによって回転する一対の中空ロールと、この一対の中空ロールのうちの一方の中空ロール内に配設され、前記金属帯内に磁界を発生させる磁化器と、前記各中空ロール内に配設され、前記金属帯の内部または表面の欠陥に起因して生じる漏洩磁束を検出する一対の磁気センサと、この一対の磁気センサで検出された各漏洩磁束値から前記欠陥の前記金属帯の厚み方向の欠陥発生位置と欠陥規模を算出する演算回路と、前記金属帯の板厚と金属種別情報および前記算出された欠陥発生位置と欠陥規模とから前記欠陥の前記金属帯に対する有害度を評価する有害度評価回路とを備えた磁気探傷装置。
IPC (2件):
G01N 27/83 ,  B21C 51/00
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 特開平3-175352
  • 特開昭57-108656
  • 特開昭61-062816

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