特許
J-GLOBAL ID：200903060066335974
光ファイバを用いた歪み計測装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
鈴江 武彦
, 村松 貞男
, 坪井 淳
, 橋本 良郎
, 河野 哲
, 風間 鉄也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-270476
公開番号（公開出願番号）：特開2004-108890
出願日： 2002年09月17日
公開日（公表日）： 2004年04月08日
要約：
【課題】歪み量に対する感度に比べて温度変化に対する感度が無視できるほど小さいブリルアン散乱法を適用して歪みを計測することによって、装置の簡素化と、計測精度の向上とを図るのみならず、動的歪み量の測定をも可能とすること。【解決手段】本発明の歪み計測装置は、被測定物に対して配置される複数のセンシング用光ファイバ18(#1〜#n)と、単一波長の出力光を出力する光源11と、出力光をポンプ光Eとプローブ光Fとに分配する光分配器13とを備えている。更に、ポンプ光Eを、光ファイバ18(#1〜#n)のうちの何れかに導くと共に、光ファイバ18内で発生した歪み情報を有するブリルアン散乱光Gを光ファイバ18から導く光スイッチ14と、プローブ光Fの波長に対する、光スイッチ14により導かれたブリルアン散乱光Gの波長のシフト量と、光ファイバ18の配置位置とに基づいて、被測定物において歪みが発生した位置と歪み量とを求める信号処理系22とを備えている。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被測定物に対してそれぞれ配置される複数のセンシング用光ファイバと、
単一波長の出力光を出力する光源部と、
前記光源部からの出力光をポンプ光とプローブ光とに分配する光分配器と、
前記光分配器によって分配されたポンプ光を、前記複数のセンシング用光ファイバのうちのいずれかに導くと共に、前記ポンプ光を導いたセンシング用光ファイバ内で発生した歪み情報を有するブリルアン散乱光を、このセンシング用光ファイバから導く導光手段と、
前記光分配器によって分配されたプローブ光の波長に対する、前記導光手段により導かれた前記ブリルアン散乱光の波長のシフト量と、このブリルアン散乱光が発生したセンシング用光ファイバの配置位置とに基づいて、前記被測定物において歪みが発生した位置と、歪み量とを求める信号処理手段と
を備えた光ファイバを用いた歪み計測装置。
IPC (3件)：
G01B11/16
, G01B11/00
, G01L1/24
G01B11/16 Z
, G01B11/00 A
, G01L1/24 A
2F065AA01
, 2F065AA65
, 2F065DD06
, 2F065DD11
, 2F065FF41
, 2F065FF51
, 2F065GG22
, 2F065GG25
, 2F065LL02
