特許

J-GLOBAL ID：200903060149869415

測光装置

発明者： 織田 肇 ,  岩澤 猛
出願人/特許権者： セイコープレシジョン株式会社
代理人 (1件)： 松田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-316759
公開番号（公開出願番号）：特開2001-133325
出願日： 1999年11月08日
公開日（公表日）： 2001年05月18日
要約：

【要約】【課題】 不使用時の光センサからオフ状態の半導体スイッチを介して電流電圧変換回路へ漏れる不要な電流を低減する。【解決手段】 モードスイッチSWmをオフ状態にすると、半導体アナログスイッチSW51、SW2がオンし、半導体アナログスイッチSW1、SW52がオフする。光センサSPD1の光電流出力端子Bから出力される光電流は、オン状態の半導体アナログスイッチSW51を介して電流電圧変換回路110に入力する。このとき、光センサSPD2から発生する光電流は半導体アナログスイッチSW2と半導体アナログスイッチSW52とに分かれて流れるが、半導体アナログスイッチSW2がオン、半導体アナログスイッチSW52がオフとなっているので、そのオン抵抗値とオフ抵抗値の違いから、光センサSPD2から発生する光電流の大部分が半導体アナログスイッチSW2を介してグランドに流れる。

請求項（抜粋）：

複数の光センサのそれぞれの光電流出力端子から出力される光電流を複数の第1の半導体スイッチによって択一的に切り換えて1つの電流電圧変換回路に入力し、上記電流電圧変換回路の出力に基づき明るさを検出する測光装置であって、上記複数の第1の半導体スイッチにより非選択状態の上記光センサの光電流出力端子と上記電流電圧変換回路の基準電位点または電源の低電位側とをショートする複数の第2の半導体スイッチが設けてあることを特徴とする測光装置。

IPC (4件)：

G01J 1/44 ,  G03B 7/081 ,  H01L 31/10 ,  H03K 17/78

FI (4件)：

G01J 1/44 A ,  G03B 7/081 ,  H03K 17/78 U ,  H01L 31/10 G

Fターム (25件)：

2G065AA08 ,  2G065AB04 ,  2G065BA09 ,  2G065BC22 ,  2G065DA18 ,  2H002DB23 ,  2H002FB30 ,  2H002HA04 ,  2H002ZA01 ,  5F049MA01 ,  5F049MB02 ,  5F049NA20 ,  5F049NB07 ,  5F049TA12 ,  5F049UA01 ,  5F049UA20 ,  5J050AA13 ,  5J050BB16 ,  5J050CC00 ,  5J050DD00 ,  5J050DD06 ,  5J050EE02 ,  5J050EE22 ,  5J050EE36 ,  5J050EE39