特許
J-GLOBAL ID：200903060164284709
応力発光材料を用いた応力または応力分布の測定方法と測定システム
発明者：
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出願人/特許権者：
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公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-024974
公開番号（公開出願番号）：特開2001-215157
出願日： 2000年02月02日
公開日（公表日）： 2001年08月10日
要約：
【要約】【課題】 応力発光材料を利用することによって、コードレスで、リアルタイムに直接応力分布を観察できると共に、簡単に応力あるいは応力分布、応力画像を測定できる測定方法及び測定システムを提供する。【解決手段】 材料自体が応力に比例して発光する応力発光材料を含む被験体に応力を加え、該被験体における応力発光材料の発光強度に基づいて該被験体における応力分布を可視化する。被験体における応力発光材料の発光強度を測定し、該測定値と前記応力発光材料の発光強度と応力との相関データとを比較することにより、該被験体における応力または応力分布を求めることができる。
請求項（抜粋）：
材料自体が応力に比例して発光する応力発光材料を含む被験体に応力を加え、該被験体における応力発光材料の発光強度に基づいて該被験体における応力分布を可視化することを特徴とする応力発光材料を用いた応力分布の測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01L 1/00 E
, G01L 1/24 Z
