特許

J-GLOBAL ID：200903060175521206

層間耐電圧評価試験装置

発明者： 池谷 生也
出願人/特許権者： 株式会社アイ・ケイ・ディー
代理人 (1件)： 阿部 龍吉 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-028126
公開番号（公開出願番号）：特開平6-027180
出願日： 1992年02月14日
公開日（公表日）： 1994年02月04日
要約：

【要約】【目的】測定電流を抑えて高精度で試験対象物の層間耐電圧不良を判別できる層間耐電圧評価試験装置を提供する。【構成】 試験対象物2の定格周波数以上の周波数で定格電圧以上の電圧を試験対象物2の端子に印加する電源1と、試験対象物2の端子電圧から印加電圧の成分を除去してコロナ電圧成分を検出するコロナ電圧検出手段3と、該コロナ電圧検出手段の検出電圧と試験対象物の端子電圧の印加電圧成分との比率を求める比率検出手段5とを備えるものである。これにより、電流で検出する従来の装置に比べて高精度で層間耐電圧劣化を検出することができる。また、比率を指示することにより、層間耐電圧の不良の発生程度を容易に判別することができる。

請求項（抜粋）：

試験対象物の定格周波数以上の周波数で定格電圧以上の電圧を試験対象物の端子に印加する電源と、試験対象物の端子電圧から印加電圧の成分を除去してコロナ電圧成分を検出するコロナ電圧検出手段と、該コロナ電圧検出手段の検出電圧と試験対象物の端子電圧の印加電圧成分との比率を求める比率検出手段とを備えたことを特徴とする層間耐電圧評価試験装置。