特許

J-GLOBAL ID：200903060185332363

ベーカリー製品の切片面解析装置

発明者： 北林 延夫
出願人/特許権者： 社団法人日本パン技術研究所
代理人 (1件)： 鈴木 敦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-049593
公開番号（公開出願番号）：特開2007-225539
出願日： 2006年02月27日
公開日（公表日）： 2007年09月06日
要約：

【課題】ベーカリー製品のクラムの気泡構造を切片面の画像により解析する装置、及び該装置により得られたデータに基づくベーカリー製品の評価方法を提供することを課題とする。【解決手段】ベーカリー製品の切片面の解析において、試料15の水平面から一定の角度をなし、かつ試料の1点から等距離上を円運動する回転光源5,7,9と、前記試料の1点から垂直軸上に設置されたカメラ11を有し、前記回転光源とカメラが外光の遮断された容器に収められた切片面解析装置であり、更には前記装置を用いた、ベーカリー製品の気泡の解析方法、及び該解析方法により得られた気泡のデータを用いたベーカリー製品の品質評価方法である。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

ベーカリー製品の切片面の解析において、試料の水平面から一定の角度をなし、かつ試料の1点から等距離上を円運動する回転光源と、前記試料の1点から垂直軸上に設置されたカメラを有し、前記回転光源とカメラが外光の遮断された容器に収められた切片面解析装置。

IPC (1件)：

G01N 21/84

FI (1件)：

G01N21/84 Z

Fターム (10件)：

2G051AA90 ,  2G051AB20 ,  2G051BB11 ,  2G051BB17 ,  2G051CA04 ,  2G051EA11 ,  2G051EA23 ,  2G051EC02 ,  2G051EC03 ,  2G051ED21

引用特許：

審査官引用 (3件)

• クラック測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-025113   出願人：新栄電子計測器株式会社
• 表面拡大検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-021876   出願人：株式会社五光インターナショナルコーポレーション
• 特開平3-112434