特許
J-GLOBAL ID：200903060187651580
部品状態検出方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
堀 進 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-305144
公開番号（公開出願番号）：特開平5-141920
出願日： 1991年11月20日
公開日（公表日）： 1993年06月08日
要約：
【要約】【目的】 ハフ変換を利用して回路基板上の部品の位置、姿勢などの状態を誤認識することなく検出できる方法を提供する。【構成】 部品の像を含む画像の明るさを微分することで得られる各画素のグラジエントに基づいて画像中の部品の輪郭を抽出し、グラジエントの方向によって各画素が部品の輪郭上のどの辺にあるかを判定し、その結果に応じて各画素に重みを付けてハフ変換を行うことにより、前記部品の状態を検出する。
請求項（抜粋）：
基板上に設置した部品の位置などの状態を検出する方法において、前記部品の像を含む画像の明るさを微分することで得られる各画素のグラジエントに基づいて前記画像中の部品の輪郭を抽出し、前記グラジエントの方向によって前記各画素が前記輪郭上のどの辺にあるかを判定し、その結果に応じて各画素に重みを付けてハフ変換を行うことにより、前記部品の状態を検出することを特徴とする部品状態検出方法。
IPC (3件)：
G01B 11/00
, G01B 11/26
, G06F 15/62 405
