特許

J-GLOBAL ID：200903060212971276

半導体集積回路のテスト回路及びデータ伝送テストシステム

発明者： 岩田 徹 ,  吉田 忠弘
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (11件)： 前田 弘 ,  小山 廣毅 ,  竹内 宏 ,  嶋田 高久 ,  竹内 祐二 ,  今江 克実 ,  藤田 篤史 ,  二宮 克也 ,  原田 智雄 ,  後藤 高志 ,  井関 勝守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-120030
公開番号（公開出願番号）：特開2004-328369
出願日： 2003年04月24日
公開日（公表日）： 2004年11月18日
要約：

【課題】データ速度の処理能力上、対応不可能な高速シリアル伝送LSIのテストにおいてLSI自身によるループバック試験を行うことによりエラーレートを測定し、LSIの良否を判定することを実現する。【解決手段】トランシーバLSI100において、データ伝送路テスト時にはセレクタ102により接地電位を暗号化/非暗号化ブロック120に入力する。暗号化されたデータは逐次変化したランダムなデータであって、ドライバ104によりデータ伝送路に送信される。送信された暗号化データは、データ伝送路からレシーバ回路105を介してトランシーバLSIに戻され、暗号解読のためのキー情報を有する暗号化/非暗号化ブロック120により解読されて、正常伝送であれば接地電位に戻る。その後、解読されたデータはパターン比較器110において送信前の固定電位と比較され、通信伝送エラーの有無及び頻度が検出される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

データが入力されるデータ入力端子と、 通常時は前記データ入力端子が受けた入力データが入力され、データ伝送テスト時には所定の固定電位が入力されて、これらの入力データ及び固定電位を暗号化する暗号化手段と、 前記暗号化手段により暗号化された暗号化データを第1のデータ伝送線路へ出力するドライバと、 前記第1のデータ伝送線路に伝送された暗号化データを第2のデータ伝送線路を介して受信するレシーバと、 前記レシーバにより受信された暗号化データを解読する解読手段と、 前記データ伝送テスト時に、前記解読手段により解読された解読データと前記固定電位とを比較することにより、データ伝送エラーを検出する比較手段とを備える ことを特徴とする半導体集積回路のテスト回路。

IPC (4件)：

H04L29/14 ,  G01R31/28 ,  H03K19/00 ,  H03K19/21

FI (4件)：

H04L13/00 315A ,  H03K19/00 B ,  H03K19/21 ,  G01R31/28 V

Fターム (29件)：

2G132AA00 ,  2G132AB01 ,  2G132AG01 ,  2G132AG05 ,  2G132AK07 ,  2G132AK09 ,  2G132AL00 ,  5J042BA14 ,  5J042BA15 ,  5J042CA00 ,  5J042CA15 ,  5J042CA16 ,  5J042CA18 ,  5J042CA22 ,  5J042CA23 ,  5J042CA26 ,  5J042DA05 ,  5J056AA03 ,  5J056BB60 ,  5J056CC00 ,  5J056CC09 ,  5J056CC14 ,  5J056CC17 ,  5J056FF08 ,  5J056GG14 ,  5K035AA04 ,  5K035AA07 ,  5K035GG02 ,  5K035GG06