特許
J-GLOBAL ID：200903060217267321
金属対象物の表面層物性を調べるためのセンサ配置及び方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
木下 洋平 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-215249
公開番号（公開出願番号）：特開平7-167838
出願日： 1994年08月18日
公開日（公表日）： 1995年07月04日
要約：
【要約】【目的】 対象物を破壊することなく、且つ、対象物からの距離に関係なく金属対象物の表面層の物性を調査することができる、センサ配置及び方法の提供。【構成】 センサ配置(1)は少なくとも1つの渦電流センサ(5)と少なくとも1つの変位測定センサ(6)の組合せからなる。渦電流センサ(5)によって発生させられる渦電流の浸透深さは表面層(3)の厚みの少なくとも2倍に対応する。変位測定センサ(6)は対象物の表面(4)からセンサ配置(1)までの距離を決定する。渦電流センサ(5)及び変位測定センサ(6,7)の測定信号は、渦電流の仮想透過深さに基づいて評価される。浸透深さは、対象物(2)のベース材料(8)における渦電流の周波数、導電率及び透磁率の関数として決定される。
請求項（抜粋）：
対象物(2)のベース材料(8)の導電率及び透磁率が既知である金属対象物(2)の表面層(3)の物性を決定するためのセンサ配置であって、少なくとも1つの渦電流センサ(5)と少なくとも1つの変位測定センサ(6)の組合せからなり、渦電流センサ(5)によって発生させられる渦電流の浸透深さが表面層(3)の厚みの少なくとも2倍に対応し、前記変位測定センサ(6)が前記対象物の表面(4)からセンサ配置(1)までの間隔を決定するように機能することを特徴とする、センサ配置。
IPC (3件)：
G01N 27/72
, G01B 7/06
, G01N 27/90
