特許
J-GLOBAL ID：200903060306577474
光ファイバ式物理量測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
平田 忠雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-347870
公開番号（公開出願番号）：特開平5-157637
出願日： 1991年12月03日
公開日（公表日）： 1993年06月25日
要約：
【要約】【目的】 本発明の目的は、高精度の測定を容易に達成し得る光ファイバ式物理量測定装置を提供することにある。【構成】 本発明に係る光ファイバ式物理量測定装置50は、4枚の光学フィルター64a〜64dを用い、光源14からのパルス光をセンサ用光ファイバ12に導くとともに、当該光ファイバ12内で発生するラマン散乱光のストークス光とアンチストークス光を交互に透過させる光合分波器54と、光合分波器54を透過したストークス光及びアンチストークス光を交互に受光し、これを電気信号に変換して演算回路60に供給する受光器56,平均化回路58からなる1系統のOTDR計測装置とを備えている。
請求項（抜粋）：
光ファイバ内で発生するラマン散乱光の強度特性に基づいて被測定対象の温度分布等の所定の物理量を測定する光ファイバ式物理量測定装置において、パルス入射光を前記光ファイバに導くとともに、前記光ファイバから戻ったラマン散乱光をストークス光とアンチストークス光とで交互に透過させる光合分波器と、前記光合分波器を透過したストークス光とアンチストークス光を交互に受光し、これを電気信号に変換する受光手段と、前記受光手段からの信号に基づいて被測定対象の温度分布等の所定の物理量を測定する演算手段とを備えたことを特徴とする光ファイバ式物理量測定装置。
IPC (3件)：
G01K 11/12
, G01J 5/08
, G01K 3/00
