特許

J-GLOBAL ID：200903060332788297

金属識別装置および金属識別方法

発明者： 入江 正一 ,  久角 隆雄 ,  荒木 紀恵 ,  長嶋 貴志
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-070792
公開番号（公開出願番号）：特開2004-003988
出願日： 2003年03月14日
公開日（公表日）： 2004年01月08日
要約：

【課題】表面に塗装膜等の絶縁皮膜がある金属であっても、低コストで簡便に金属の種類を識別できる金属識別装置および金属識別方法を提供する。【解決手段】被識別物(50)との間で放電を起こして被識別物(50)を励起発光させる放電電極(112)を含むアーク放電装置(11)と、アーク放電装置(11)で発光した光を集光する光ファイバー(12)と、光ファイバー(12)にて集光された光の発光スペクトルを測定する分光計(13)と、分光計(13)にて測定された発光スペクトルのデータと予め格納された複数の標準試料の発光スペクトルデータとを比較し、被識別物(50)の金属の種類を識別する識別処理部としてのパーソナルコンピュータ(14)と、被識別物の表面の少なくとも一部を破損させる破損処理部として設けられた、先端部に突起を有する対電極(113)とを含む。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

被識別物との間で放電を起こして前記被識別物を励起発光させる第1の電極を含む発光部と、 前記発光部で発光した光を集光する集光部と、 前記集光部にて集光された光の発光スペクトルを測定する分光測定部と、 前記分光測定部にて測定された前記発光スペクトルのデータと、予め格納された複数の標準試料の発光スペクトルデータとを比較して、前記被識別物を識別する識別処理部と、 前記被識別物の表面の少なくとも一部を破損させる破損処理部と、 を含むことを特徴とする金属識別装置。

IPC (1件)：

G01N21/67

FI (1件)：

G01N21/67 A

Fターム (11件)：

2G043AA01 ,  2G043BA01 ,  2G043CA05 ,  2G043EA09 ,  2G043GA07 ,  2G043GB19 ,  2G043GB21 ,  2G043JA01 ,  2G043LA01 ,  2G043NA01 ,  2G043NA06