特許

J-GLOBAL ID：200903060350461580

光記録媒体試料の作製方法、光記録媒体試料の分析方法及び光記録媒体試料の作製装置

発明者： 春原 秀樹 ,  白砂 健司
出願人/特許権者： TDK株式会社
代理人 (3件)： 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  阿部 豊隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-384159
公開番号（公開出願番号）：特開2005-149600
出願日： 2003年11月13日
公開日（公表日）： 2005年06月09日
要約：

【課題】 光記録媒体の基板の表面状態を十分に正確に且つ精度よく分析できる光記録媒体試料の作製方法を提供する。【解決手段】 上記課題を解決する光記録媒体試料の作製方法は、基板とその基板の一側に形成された誘電体層とを有する光記録媒体の上記誘電体層を溶解せずに上記基板を選択的に溶解可能な液体を用いて基板を溶解することにより、誘電体層の基板との接触面を露出させる基板溶解工程を含むものである。【選択図】 なし

請求項（抜粋）：

基板とその基板の一側に形成された誘電体層とを有する光記録媒体の前記誘電体層を溶解せずに前記基板を選択的に溶解可能な液体を用いて前記基板を溶解することにより、前記誘電体層の前記基板との接触面を露出させる基板溶解工程を含むことを特徴とする光記録媒体試料の作製方法。

IPC (3件)：

G11B7/26 ,  G01N1/28 ,  G01N13/16

FI (3件)：

G11B7/26 ,  G01N13/16 A ,  G01N1/28 X

Fターム (10件)：

2G052AA00 ,  2G052AD32 ,  2G052AD52 ,  2G052FD09 ,  2G052GA35 ,  2G052GA36 ,  5D121AA03 ,  5D121AA20 ,  5D121HH04 ,  5D121HH20