特許
J-GLOBAL ID：200903060357314621

逆光画像判定および暗部補正

発明者：
平岡 靖

平岡 靖 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人明成国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-187684
公開番号（公開出願番号）：特開2007-011430
出願日： 2005年06月28日
公開日（公表日）： 2007年01月18日
要約：
【課題】 逆光画像を高精度に検出する。【解決手段】 入力画像データDpについての各画素の輝度Yを算出して(S100)、その輝度Yについての輝度ヒストグラムを算出する(ステップS110)。次いで、輝度ヒストグラムから累積ヒストグラムを算出して(ステップS120)、その累積ヒストグラムに基づいて、入力画像データDpが逆光画像であるか否かの判定を行なう(ステップS130)。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
撮影画像が逆光画像であるか否かを判定する逆光画像判定装置であって、 前記撮影画像を表わす画像データを取得する画像データ取得手段と、 前記取得された画像データから、前記画像データを構成する画素毎の明るさを示す階調値を算出する階調値算出手段と、 前記算出された画素毎の階調値に基づいて、各階調区間における画素数の累積和を累積度数として示す累積ヒストグラムを算出する累積ヒストグラム算出手段と、 前記算出された累積ヒストグラムにおける累積度数の変化に基づいて、前記撮影画像が逆光画像であるか否かの判定を行なう判定手段と を備える逆光画像判定装置。
IPC (4件)：
G06T 5/00 ,  G06T 5/40 ,  H04N 5/225 ,  H04N 1/407
FI (4件)：
G06T5/00 100 ,  G06T5/40 ,  H04N5/225 F ,  H04N1/40 101E
Fターム (33件)：
5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE11 ,  5B057CH18 ,  5B057DA16 ,  5B057DA17 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC22 ,  5B057DC36 ,  5C077LL04 ,  5C077PP15 ,  5C077PP47 ,  5C077PP48 ,  5C077PP51 ,  5C077PQ12 ,  5C077PQ19 ,  5C077TT09 ,  5C122DA03 ,  5C122DA04 ,  5C122EA20 ,  5C122FH01 ,  5C122FH10 ,  5C122FH24 ,  5C122HA13 ,  5C122HA35 ,  5C122HB01
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (2件)

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