特許
J-GLOBAL ID：200903060396775326

測色装置、測色方法、係数算出方法、係数算出装置、および係数算出プログラム記憶媒体

発明者：
大久保 彰人

大久保 彰人 について


出願人/特許権者：
富士写真フイルム株式会社

富士写真フイルム株式会社 について


代理人 (1件)： 山田 正紀 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-355342
公開番号（公開出願番号）：特開2001-174334
出願日： 1999年12月15日
公開日（公表日）： 2001年06月29日
要約：
【要約】【課題】 簡易な装置で正確な測色値を得る。【解決手段】 本発明の測色装置は、試料に測定光を照射して分光反射率を測定する分光反射率測定部20と、蛍光物質を含む蛍光試料40に第1および第2の測定光が照射されて測定された第1および第2の分光反射率が入力され、観察光が蛍光試料40に照射されたとき三刺激値Wを、蛍光物質が観察光によって励起される観察光励起エネルギーEilと、所定の補正係数Ecpと、蛍光物質が第1の測定光によって励起される測定光励起エネルギーEuと、仮想的な第1および第2の物質に第1の測定光が照射されたときの三刺激値Wu,Wuvと、その第2の物質に観察光が照射されたときの三刺激値W0がW=W0+(Eil-Ecp)×(Wu-Wuv)/Euなる関係を満たすように算出する三刺激値算出部30とを備えている。
請求項（抜粋）：
試料に測定光を照射して、その試料で反射された反射光を分光測光することによりその試料の分光反射率を測定する、紫外領域の光強度が相対的に高い第1の測定光を照射して行う測定と、紫外領域の光強度が相対的に低い第2の測定光を照射して行う測定との双方が可能な分光反射率測定部と、蛍光物質を含む蛍光試料に対し前記分光反射率測定部によって前記第1の測定光が照射されて、反射光と蛍光とが混合した光が分光測光されることにより測定された見かけ上の第1の分光反射率と、該蛍光試料に対し前記分光反射率測定部によって前記第2の測定光が照射されて、反射光と蛍光とが混合した光が分光測光されることにより測定された見かけ上の第2の分光反射率とが入力され、所定の観察光が前記蛍光試料に照射されたときの該蛍光試料の色を表す三刺激値X,Y,Zのうち少なくともいずれか1つの三刺激値Wを、その1つの三刺激値Wと、前記蛍光試料に含まれている蛍光物質が前記観察光によって励起される観察光励起エネルギーEilと、所定の補正係数Ecpと、前記蛍光試料に含まれている蛍光物質が前記第1の測定光によって励起される測定光励起エネルギーEuと、前記第1の分光反射率と同じ分光反射率を真の分光反射率として有する仮想的な第1の物質に前記第1の測定光が照射されたときの該第1の物質の色を表す三刺激値Xu,Yu,Zuのうち前記1つの三刺激値Wに対応する三刺激値Wuと、前記第2の分光反射率と同じ分光反射率を真の分光反射率として有する仮想的な第2の物質に前記第1の測定光が照射されたときの該第2の物質の色を表す三刺激値Xuv,Yuv,Zuvのうち前記1つの三刺激値Wに対応する三刺激値Wuvと、前記第2の物質に前記観察光が照射されたときの該第2の物質の色を表す三刺激値X0,Y0,Z0のうち前記1つの三刺激値Wに対応する三刺激値W0とが、W=W0+(Eil-Ecp)×(Wu-Wuv)/Euなる関係を満たすように算出する三刺激値算出部とを備えたことを特徴とする測色装置。
IPC (2件)：
G01J 3/50 ,  G01J 3/443
FI (2件)：
G01J 3/50 ,  G01J 3/443
Fターム (10件)：
2G020AA04 ,  2G020AA05 ,  2G020AA08 ,  2G020CD12 ,  2G020CD22 ,  2G020CD38 ,  2G020DA13 ,  2G020DA34 ,  2G020DA35 ,  2G020DA43
引用特許：
審査官引用 (2件)
  • 測色値の測定方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-337173   出願人：富士写真フイルム株式会社
  • 特開昭57-056724

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