特許
J-GLOBAL ID：200903060443921719
医薬品成分のX線分析の非破壊・迅速システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 桜井 周矩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-083310
公開番号（公開出願番号）：特開2004-294098
出願日： 2003年03月25日
公開日（公表日）： 2004年10月21日
要約：
【課題】従来技術の解決すべき課題は、微量な粉末試料を対象にし、分子量の大きな医薬品の結晶多形を十分な精度で記録することであり、特に、この原粉末の保存時の結晶多形検査の問題は、空気中での粉末回折検査で行われており、空気中に含まれる水分(湿気)による変化を免れ得ない点であった。【解決手段】高エネルギー放射光X線を結晶粉末からなる医薬品に照射し、その粉末からの前記照射X線の回折像と医薬品のシール材である糖衣、カプセルやラミネートからの背景散乱との比が大きいことを利用することにより、その結晶粉末の成分を非破壊的に特定することからなる医薬品成分のX線分析の非破壊・迅速システム。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
高エネルギー放射光X線を結晶粉末からなる医薬品に照射し、その粉末からの前記照射X線の回折像と医薬品のシール材である糖衣、カプセルやラミネートからの背景散乱との比が大きいことを利用することにより、その結晶粉末の成分を非破壊的に特定することからなる医薬品成分のX線分析の非破壊・迅速システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (11件)：
2G001AA01
, 2G001AA09
, 2G001BA22
, 2G001CA01
, 2G001DA09
, 2G001DA10
, 2G001HA13
, 2G001KA01
, 2G001LA01
, 2G001MA04
, 2G001PA07
