特許

J-GLOBAL ID：200903060445327121

コンデンサの絶縁抵抗測定方法および特性選別装置

発明者： 神谷 岳
出願人/特許権者： 株式会社村田製作所
代理人 (1件)： 筒井 秀隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-135813
公開番号（公開出願番号）：特開平10-311853
出願日： 1997年05月09日
公開日（公表日）： 1998年11月24日
要約：

【要約】【課題】コンデンサの絶縁抵抗を短時間でかつ正確に測定すること。【解決手段】コンデンサに2種類の異なる周波数f1 ,f2 の交流信号を印加し、各周波数におけるコンデンサのインピーダンスZ1 ,Z2 をそれぞれ測定する。高い周波数f1 におけるインピーダンスZ1 からコンデンサの直列抵抗Rsと容量Cとを求め、低い周波数f2 におけるインピーダンスZ2 と直列抵抗Rsと容量Cとから、コンデンサの絶縁抵抗Rsを求める。

請求項（抜粋）：

コンデンサに2種類の異なる周波数f1 ,f2 の交流信号を印加し、各周波数におけるコンデンサのインピーダンスZ1 ,Z2 をそれぞれ測定する工程と、高い周波数f1 におけるインピーダンスZ1 からコンデンサの直列抵抗Rsと容量Cとを求める工程と、低い周波数f2 におけるインピーダンスZ2 と直列抵抗Rsと容量Cとから、コンデンサの絶縁抵抗Rsを求める工程と、を備えたことを特徴とするコンデンサの絶縁抵抗測定方法。

IPC (4件)：

G01R 27/00 ,  G01R 27/02 ,  G01R 27/26 ,  G01R 31/00

FI (4件)：

G01R 27/00 ,  G01R 27/02 R ,  G01R 27/26 C ,  G01R 31/00