特許

J-GLOBAL ID：200903060498094277

形状測定機

発明者： 福田 順一 ,  棚田 哲憲
出願人/特許権者： 株式会社ミツトヨ
代理人 (1件)： 木下 實三 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-159994
公開番号（公開出願番号）：特開平8-029153
出願日： 1994年07月12日
公開日（公表日）： 1996年02月02日
要約：

【要約】【目的】 測定対象物の位置決めを容易かつ正確に行うことができるとともに高精度な測定を行うことができる形状測定機の提供。【構成】 稜線を有する測定対象物の形状測定を行う形状測定機10に、測定対象物の姿勢の仮測定を行う仮測定手段51と、この仮測定手段51による測定結果に基づいて測定対象物の姿勢の基準姿勢(本測定を行う際の姿勢)に対する誤差を算出する演算手段52と、この演算手段52による演算結果に基づいて駆動手段40を操作して測定対象物の姿勢を修正する姿勢制御手段53とを設け、これらにより測定対象物の位置決めを自動的に行った後に、本測定手段54により検出器24を用いて本測定を行うようにした。

請求項（抜粋）：

稜線を有する測定対象物を支持する支持手段と、この支持手段により支持された前記測定対象物の形状測定を行う検出器と、これらの支持手段と検出器とを相対運動させる駆動手段と、前記支持手段により支持された測定対象物の姿勢の仮測定を行う仮測定手段と、この仮測定手段による測定結果に基づいて前記測定対象物の姿勢の基準姿勢に対する誤差を算出する演算手段と、この演算手段による演算結果に基づいて前記駆動手段を操作して前記測定対象物の姿勢を前記基準姿勢に修正する姿勢制御手段と、前記基準姿勢に修正された前記測定対象物の形状測定を前記検出器により行う本測定手段とを備えたことを特徴とする形状測定機。

IPC (2件)：

G01B 21/20 101 ,  G01B 21/20

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭62-261916
  
• 特開平2-218908
  
• 特開平2-129505
  
• 特開昭60-196608