特許
J-GLOBAL ID：200903060516965019
光散乱吸光媒質の吸光係数および光散乱係数の測定方法および測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-074560
公開番号（公開出願番号）：特開平9-264842
出願日： 1996年03月28日
公開日（公表日）： 1997年10月07日
要約：
【要約】【課題】 光散乱吸光媒質である測定対象物の吸光係数および光散乱係数をリアルタイムに且つ正確に測定する。【解決手段】 入射光量A算出部164により、光散乱吸光媒質である測定対象物102の幾何学的条件と略同等の条件の下に求められた入射光量、吸光係数および光散乱係数をパラメータとする光拡散方程式の解は、吸光係数および光散乱係数が既知である標準試料104について求められた時間分解プロファイルに当てはめ計算が行われて、実効的入射光量が求められる。次に、測定対象物102について出射光の光強度と時間分解プロファイルが求められ、時間分解プロファイル補正部162により、この時間分解プロファイルが、出射光の光強度に基づいて補正され、光散乱係数・吸光係数算出部166により、この補正された時間分解プロファイルに、実効的入射光量が代入された光拡散方程式の解が当てはめられて、測定対象物102の吸光係数および光散乱係数が求められる。
請求項（抜粋）：
光散乱吸光媒質である測定対象物の幾何学的条件と略同等の条件の下に、入射光量、吸光係数および光散乱係数をパラメータとする光拡散方程式の解を求める第1のステップと、吸光係数および光散乱係数が既知である標準試料に対して光パルスを照射し、前記標準試料における多重散乱に伴って発生した出射光を時間分解計測して第1の時間分解プロファイルを求める第2のステップと、前記第1の時間分解プロファイルに、前記標準試料の吸光係数および光散乱係数それぞれの値が代入された前記光拡散方程式の解を当てはめて、実効的入射光量を求める第3のステップと、前記測定対象物に対して光パルスを照射し、前記測定対象物における多重散乱に伴って発生した出射光の光強度を測定するとともに、該出射光を時間分解計測して第2の時間分解プロファイルを求める第4のステップと、前記第2の時間分解プロファイルを前記出射光の光強度に基づいて補正する第5のステップと、前記第5のステップで補正された前記第2の時間分解プロファイルに、前記実効的入射光量が代入された前記光拡散方程式の解を当てはめて、前記測定対象物の吸光係数および光散乱係数を求める第6のステップと、を備えることを特徴とする光散乱吸光媒質の吸光係数および光散乱係数の測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/27 B
, A61B 10/00 E
