特許

J-GLOBAL ID：200903060518149618

液晶表示板検査装置

発明者： 高橋 映 ,  飯田 豊男 ,  田中 雅樹 ,  長尾 嘉祐
出願人/特許権者： オムロン株式会社
代理人 (1件)： 和田 成則
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-133405
公開番号（公開出願番号）：特開平9-318687
出願日： 1996年05月28日
公開日（公表日）： 1997年12月12日
要約：

【要約】【課題】 駆動電圧の決定を考慮せず、また非常のコントラストの低い画像においても、高速に液晶表示板の欠陥を検出するようにする。【解決手段】 駆動電圧制御部5は、液晶表示板11に駆動電圧を印加して、液晶表示板10を点灯させる。バックライト11は、液晶表示板11を所定の輝度でバックライト照明を行う。画像処理部駆2は、動電圧を変化させながら取り込んだ画像データを加算して、加算画像データを形成する。画像処理部駆2は、この加算画像データ形成手段で形成された加算画像データを正規化して、正規化画像を形成する。良否判定部3は、この画像処理部駆2により形成された正規化画像に基づき、液晶表示板10の欠陥を検査する。

請求項（抜粋）：

駆動電圧が印加されて点灯した液晶表示板を撮像し、その画像データで撮像液晶表示板の欠陥を検査する液晶表示板検査装置であって、駆動電圧を変化させながら取り込んだ画像データを加算して、加算画像データを形成する加算画像データ形成手段と、この加算画像データ形成手段で形成された上記加算画像データを正規化して、正規化画像を形成する正規化画像形成手段と、この正規化画像形成手段により形成された正規化画像に基づき、上記液晶表示板の欠陥を検査する欠陥検査手段と、を具備することを特徴とする液晶表示板検査装置。

IPC (3件)：

G01R 31/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G06T 1/00

FI (3件)：

G01R 31/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G06F 15/62 380