特許
J-GLOBAL ID:200903060529098144

印刷物の検査方法及びこの装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-071607
公開番号(公開出願番号):特開平10-269359
出願日: 1997年03月25日
公開日(公表日): 1998年10月09日
要約:
【要約】【課題】印刷物の汚れ、欠け、文字違いなどを検出する検査方法及び検査装置に関するものである。【解決手段】(1)検査見本の画像を基準メモリに格納する工程S1。(2)基準メモリと対応したアドレスを有するマスクメモリにおいて検査領域と非検査領域とを設定する工程S2。(3)被検査印刷物の画像を画像メモリに格納する工程S3。(4)前記被検査画像メモリの記録情報を位置補正する工程S4。(5)基準メモリ信号と比較した結果抽出される欠陥候補画素のうち、マスクメモリに設定された非検査領域に該当する画素は欠陥検出されても無視する工程S5。(6)検査領域内の相違点の画素数が設定した閾値より大きい場合のみ、相違画像を表示して、損紙と判定する工程S6からなる印刷物の検査方法。
請求項(抜粋):
印刷物の絵柄を画素毎に検出部(画像入力部)より取り込み、この検出された画素ごとの絵柄情報を、予め入力された対応する画素ごとの基準絵柄信号と比較して印刷物の汚れ、欠け、文字違いなどを検出する検査方法において、(1)基準となる検査見本の画像を基準メモリに格納する工程。(2)基準メモリと対応したアドレスを有するマスクメモリにおいて、検査領域と非検査領域とを設定する工程。(3)被検査印刷物の画像を画像メモリに格納する工程。(4)基準メモリと比較する為に、前記被検査画像メモリの記録情報を位置補正する工程(5)基準メモリ信号と比較した結果抽出される欠陥候補画素のうち、前記マスクメモリに設定された非検査領域に該当する画素は欠陥検出されても無視する工程。(6)検査領域内の相違点の画素数が設定した閾値より大きい場合のみ、相違画像を表示して、損紙と判定する工程。を含むことを特徴とする印刷物の検査方法。
IPC (3件):
G06T 7/00 ,  B41J 29/46 ,  G01N 21/89
FI (3件):
G06F 15/62 410 A ,  B41J 29/46 C ,  G01N 21/89 A

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