特許

J-GLOBAL ID：200903060562710831

測距装置

発明者： 野中 修
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-354535
公開番号（公開出願番号）：特開2000-180703
出願日： 1998年12月14日
公開日（公表日）： 2000年06月30日
要約：

【要約】【課題】撮影のにが手な被写体をなくし、スペース的、コスト的にも有利でかつタイムラグを少なくした測距装置を提供する。【解決手段】被写体に対して測距用光を投射する投光手段(レンズ1、発光素子2)と、被写体の像パターンをモニタする受光手段(受光レンズ3、センサアレイ4)と、受光手段の出力信号を積分する積分回路20と、受光手段に定常的に入射する定常光に伴う出力信号を、積分回路20に導かないようにする定常光除去回路23と、投光手段の投射に基づく被写体からの反射信号光の位置を求めるときには、定常光除去回路23を作動させる第1のモードあるいは定常光除去回路23を作動させない第2のモードを設定する演算制御部10と具備する。

請求項（抜粋）：

被写体に対して測距用光を投射する投光手段と、上記被写体の像パターンをモニタする受光手段と、上記受光手段の出力信号を積分する積分手段と、上記受光手段に定常的に入射する定常光に伴う出力信号を、上記積分手段に導かないようにする定常成分除去手段と、上記投光手段の投射に基づく上記被写体からの反射信号光の位置を求めるときには、上記定常成分除去手段を作動させる第1のモードあるいは上記定常成分除去手段を作動させない第2のモードを設定する制御手段と、を具備することを特徴とする測距装置。

IPC (4件)：

G02B 7/28 ,  G01C 3/06 ,  G02B 7/32 ,  G03B 13/36

FI (4件)：

G02B 7/11 N ,  G01C 3/06 A ,  G02B 7/11 B ,  G03B 3/00 A

Fターム (26件)：

2F112AA06 ,  2F112BA03 ,  2F112BA10 ,  2F112CA02 ,  2F112DA05 ,  2F112DA26 ,  2F112DA32 ,  2F112FA03 ,  2F112FA45 ,  2H011AA01 ,  2H011BA05 ,  2H011BA14 ,  2H011BB04 ,  2H011DA01 ,  2H051BB07 ,  2H051BB20 ,  2H051CB20 ,  2H051CB24 ,  2H051CC03 ,  2H051CC20 ,  2H051CE08 ,  2H051CE16 ,  2H051CE21 ,  2H051DA01 ,  2H051DA02 ,  2H051DA22