特許

J-GLOBAL ID：200903060597097733

診断機能付き論理集積回路および論理集積回路の診断方法

発明者： 池谷 豊人 ,  川島 正敏
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 大日方 富雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-110408
公開番号（公開出願番号）：特開2000-304816
出願日： 1999年04月19日
公開日（公表日）： 2000年11月02日
要約：

【要約】【課題】 従来のシフトスキャン方式の診断回路は、外部のテスタ等から論理集積回路チップに2つのクロック信号を与えるように構成されていたため、2つのクロック信号間のスキューが大きく、それによって内部論理回路の高精度のディレイテストが行なえないという問題点があった。【解決手段】 バウンダリスキャン制御回路(16)に外部から入力されるクロック信号(TCK)に基づいて、内部論理回路(11)のスキャンパスを構成するフリップフロップ(FF11〜FFmn)に供給される異なるタイミングの2つのクロック信号(SELCK1,SELCK2)を形成するようにした。

請求項（抜粋）：

内部論理回路内に設けられたスキャンパスを用いて前記内部論理回路の診断を行なう第1の診断回路と、外部とのインタフェース部に設けられたスキャンパスを用いて外部との接続の診断を行なう第2の診断回路とを備えた論理集積回路であって、上記第1の診断回路のために外部から入力されるクロック信号に基づいて、上記第2の診断回路の動作のための複数のクロック信号を形成するクロック形成回路を備えていることを特徴とする診断機能付き論理集積回路。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  G06F 11/22 360 ,  H03K 19/00

FI (3件)：

G01R 31/28 G ,  G06F 11/22 360 P ,  H03K 19/00 B

Fターム (27件)：

2G032AA01 ,  2G032AA04 ,  2G032AC10 ,  2G032AD06 ,  2G032AD07 ,  2G032AG04 ,  2G032AG07 ,  2G032AK16 ,  2G032AK19 ,  5B048AA20 ,  5B048CC11 ,  5B048CC18 ,  5B048DD05 ,  5B048DD07 ,  5B048EE08 ,  5B048FF01 ,  5J056AA39 ,  5J056BB60 ,  5J056CC00 ,  5J056CC05 ,  5J056CC18 ,  5J056FF01 ,  5J056FF07 ,  9A001BB05 ,  9A001HZ34 ,  9A001JJ45 ,  9A001LL05