特許

J-GLOBAL ID：200903060652147230

ALCパネルの劣化度推定方法

発明者： 二木 昌次
出願人/特許権者： 住友金属鉱山シポレックス株式会社
代理人 (1件)： 押田 良輝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-377386
公開番号（公開出願番号）：特開2003-177083
出願日： 2001年12月11日
公開日（公表日）： 2003年06月27日
要約：

【要約】【課題】 建物の現場でALCパネルの劣化程度を簡易迅速にかつ精度よく推定することができる方法を提供する。【解決手段】 ALCパネル自体にビスを打設し、ビス引抜き試験方法により当該ビスの引抜き強度を測定し、該ビス引抜き強度と炭酸化度の関係より当該ALCパネルの劣化度を推定することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

ALCパネル自体にビスを打設し、ビス引抜き試験方法により当該ビスの引抜き強度を測定し、該ビス引抜き強度と炭酸化度の関係より当該ALCパネルの劣化度を推定することを特徴とするALCパネルの劣化度推定方法。

IPC (2件)：

G01N 3/00 ,  G01N 17/00

FI (2件)：

G01N 3/00 M ,  G01N 17/00

Fターム (19件)：

2G050AA04 ,  2G050BA02 ,  2G050BA05 ,  2G050BA10 ,  2G050BA12 ,  2G050CA01 ,  2G050DA02 ,  2G050EA01 ,  2G050EB01 ,  2G050EC05 ,  2G061AA01 ,  2G061AB01 ,  2G061BA04 ,  2G061CA05 ,  2G061CA08 ,  2G061CB01 ,  2G061CB03 ,  2G061EA01 ,  2G061EC02