特許
J-GLOBAL ID：200903060687728872
粒子分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-290907
公開番号（公開出願番号）：特開平8-145869
出願日： 1994年11月25日
公開日（公表日）： 1996年06月07日
要約：
【要約】【目的】粒子検出におけるレーザ光束とスリットを用いてサンプル流れを監視することにより、高精度でかつ鮮明な粒子の静止画像が撮影できる粒子分析装置を実現する。【構成】粒子検出用レーザをフローセル4に照射し、粒子の散乱光静止画像をモニタ11上に表示する。一方、サンプル流れ13はレーザとスリット27,スリット28により監視されている。フローセル内又は、サンプル流れに異常をきたしている場合には、モニタ11上にアラームを表示して、装置を停止する。
請求項（抜粋）：
フローセルにサンプルを供給し、前記フローセルにサンプル液の外層として流れるシース液を供給し、粒子の通過を検出し、パルスランプを光源とし粒子を撮像し、得られた画像を解析し粒子の分析をする粒子分析装置において、レーザ光束とスリットを用いてサンプル流れを監視することを特徴とする粒子分析装置。
IPC (2件)：
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