座標検出装置および座標検出方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：安富耕二 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-014165
公開番号（公開出願番号）：特開平11-212714
出願日： 1998年01月27日
公開日（公表日）： 1999年08月06日
要約：

【要約】【課題】より精度の良い座標値を出力し得る座標検出装置および座標検出方法を提供すること。【解決手段】 103は、センサー部101からの基本座標値102をハードウエア回路により補正およびノイズ除去する処理回路である。かかる処理回路103は、基本座標値102の内、X軸方向の座標データに対応するものと、Y軸方向の座標データに対応するものの2系統が、内部において独立して準備されている。また、各系統毎に、補正およびノイズ除去のためのパラメータを設定できるようになっている。

請求項（抜粋）：

2次元または3次元の座標をセンサー部で検出して得た基本座標値に対し、回路処理および/若しくはソフトウエア処理を施す座標検出装置において、X軸方向、Y軸方向またはZ軸方向のそれぞれに対し前記回路処理および/若しくはソフトウエア処理を施す処理部を別途独立して配したことを特徴とする座標検出装置。

IPC (2件)：

G06F 3/03 380 , G06F 3/03 310

FI (2件)：

G06F 3/03 380 K , G06F 3/03 310 A

引用特許：

審査官引用 (1件)

特開平4-017015

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