特許
J-GLOBAL ID：200903060721718105

画像表示装置

発明者：
駒寿 学

駒寿 学 について


出願人/特許権者：
NEC液晶テクノロジー株式会社

NEC液晶テクノロジー株式会社 について


代理人 (1件)： 泉 克文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-144763
公開番号（公開出願番号）：特開2007-316263
出願日： 2006年05月25日
公開日（公表日）： 2007年12月06日
要約：
【課題】 表示部の欠陥検査時に、配線端子部にある検査用電極や引出配線用導電膜(例えばCr)の腐食、消失等によって表示異常が生じるのを、簡単な構成で効果的に防止できる画像表示装置を提供する。【解決手段】 配線端子部において、実装用電極25を表示部の内部配線に電気的に接続する引出配線23用の第1導電膜23aは、検査用電極26とは分離して形成される。実装用電極25と検査用電極26との電気的接続は、第1導電膜23aを覆う引出配線用絶縁膜23c上に設けられた接続用導電膜27によって行われる。接続用導電膜27は、表示部11の欠陥検査時における耐腐食性が検査用電極26よりも高い材料(例えばITO)で形成される。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
アレイ状に配置された複数の画素を含む表示部と、駆動用半導体装置を実装する実装領域を含む配線端子部とを備え、前記配線端子部には、前記表示部中の内部配線と前記駆動用半導体装置とを電気的に接続する複数の引出配線が形成されていて、それら引出配線の各々が、前記駆動用半導体装置の実装に使用される実装用電極と、前記表示部の欠陥の検査に使用される検査用電極とを有している画像表示装置において、 前記実装用電極を前記内部配線に電気的に接続する前記引出配線用の第1導電膜が、前記検査用電極とは分離して形成されており、 前記実装用電極と前記検査用電極との電気的接続が、前記第1導電膜を覆う前記引出配線用の絶縁膜の上に設けられた接続用導電膜によって行われていると共に、その接続用導電膜が、前記表示部の欠陥の検査時における耐腐食性が前記検査用電極よりも高い材料で形成されていることを特徴とする画像表示装置。
IPC (3件)：
G09F 9/30 ,  G02F 1/134 ,  G02F 1/136
FI (3件)：
G09F9/30 330Z ,  G02F1/1345 ,  G02F1/1368
Fターム (29件)：
2H092GA33 ,  2H092GA35 ,  2H092GA41 ,  2H092GA42 ,  2H092GA50 ,  2H092GA55 ,  2H092GA56 ,  2H092GA59 ,  2H092GA60 ,  2H092HA12 ,  2H092HA19 ,  2H092HA24 ,  2H092JB57 ,  2H092KB04 ,  2H092MA57 ,  2H092NA15 ,  2H092NA30 ,  5C094AA31 ,  5C094AA41 ,  5C094AA42 ,  5C094AA43 ,  5C094BA03 ,  5C094BA43 ,  5C094CA19 ,  5C094CA24 ,  5C094DA14 ,  5C094EA03 ,  5C094ED03 ,  5C094GB10
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 画像表示装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-358144   出願人：NEC液晶テクノロジー株式会社
審査官引用 (7件)
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