特許

J-GLOBAL ID：200903060734282063

二値化処理方法、外観検査方法および外観検査装置

発明者： 小前 竜吾
出願人/特許権者： 株式会社村田製作所
代理人 (1件)： 原 謙三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-121801
公開番号（公開出願番号）：特開2002-319021
出願日： 2001年04月19日
公開日（公表日）： 2002年10月31日
要約：

【要約】【課題】 多様な分布のデータを正確に自動二値化する。【解決手段】 本発明の二値化処理方法は、グループ化処理(S1〜S5)において、画像の輝度データに対してK-means法を施すことにより、前記輝度データを所定個数のグループに分割して各グループの代表値を算出し、二値化閾値設定処理(S6,S7)において、輝度レベルが隣り合う上記代表値の差が最大となる最大距離区間の中点に二値化閾値を設定する。これにより、従来二値化が難しかった像と背景との面積比が未知の画像や輝度分布の谷がはっきりしない画像をも正確に自動的に二値化できる。よって、チップ型電子部品の外観検査等において、従来解析できなかった撮像画像の解析が可能となり、誤認識の少ない判別を行うことができる。

請求項（抜粋）：

入力されたデータ群にK-means法を施して、当該データ群のデータを所定個数のグループに分割するK-means法処理手段を用いた二値化処理方法であって、データ取得手段によって取得した一次元に配列可能な複数のデータよりなるデータ群を、上記K-means法処理手段に入力して、所定個数のグループに分割し、各グループの代表値を算出するグループ化処理と、上記配列上において隣り合う上記代表値の差が最大となる最大距離区間内に二値化閾値を設定する二値化閾値設定処理と、を含むことを特徴とする二値化処理方法。

IPC (4件)：

G06T 5/00 200 ,  G01N 21/88 ,  G06T 1/00 305 ,  H04N 1/403

FI (4件)：

G06T 5/00 200 Z ,  G01N 21/88 J ,  G06T 1/00 305 Z ,  H04N 1/40 103 A

Fターム (25件)：

2G051AA61 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051DA08 ,  2G051EA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EB01 ,  2G051EC02 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB06 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB08 ,  5B057DC04 ,  5B057DC23 ,  5C077LL19 ,  5C077MP01 ,  5C077RR14