特許

J-GLOBAL ID：200903060791030470

材料試験機

発明者： 清水 高行
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 喜多 俊文 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-297203
公開番号（公開出願番号）：特開2003-106965
出願日： 2001年09月27日
公開日（公表日）： 2003年04月09日
要約：

【要約】【課題】 試験終了後の試験片の残存や、次回試験片の大きさの変化等があっても、次回試験のためのクロスヘッドがこれら試験片等に衝突することがない材料試験機を提供する。【解決手段】 機台1とクロスヘッド4との間における両支柱2に、試験片9に対向して発光器LGと受光器DTを対向配置するとともに、この発光器LGと受光器DTをワイヤWとプーリP1〜P4からなる変位機構によって試験軸芯方向に変位できるように構成する。したがって発光器LGと受光器DTは試験終了後における破断片の残存等とその位置を検出し、次回試験のためのクロスヘッド4の復帰位置がプログラム制御されて調整され、クロスヘッド4が破断片に衝突することは解消される。

請求項（抜粋）：

試験機の機台と、この機台の両側に垂設された両支柱間に架設されたクロスヘッドとの相対的な変位によって、この機台とクロスヘッド間の試験片に対して引張りまたは圧縮の負荷を与えて試験する材料試験機において、試験後における前記機台とクロスヘッド間における試験片の有無とその位置を検出する試験片検出機構を設け、この検出機構の信号によってクロスヘッドの変位を調整するようにしたことを特徴とする材料試験機。

Fターム (7件)：

2G061AA01 ,  2G061AA02 ,  2G061DA20 ,  2G061EA01 ,  2G061EA10 ,  2G061EB03 ,  2G061EB07