特許

J-GLOBAL ID：200903060810450272

負イオンシステム

発明者： 山下 浩司 ,  森 美喜男 ,  亀山 晋 ,  谷村 泰宏
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 宮田 金雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-092843
公開番号（公開出願番号）：特開2001-276205
出願日： 2000年03月30日
公開日（公表日）： 2001年10月09日
要約：

【要約】【課題】 冷蔵庫内での負イオン濃度の立ちあがり特性を向上させ、冷蔵庫内の負イオン濃度が所定濃度になるまでの時間を短縮し、微生物の繁殖防止を効果的に行うことができる負イオンシステムを提供する。【解決手段】 負イオン発生手段によって発生させた負イオンを所定空間内に供給し、内部に配置された対象物の近傍での負イオン濃度が所定濃度以上となるようにした負イオンシステムにおいて、所定空間内の表面を帯電し難い材料、導電性を有す材料、もしくは親水性を有す材料のいずれかで構成するようにする。

請求項（抜粋）：

空気中に負イオンを発生させる負イオン発生手段と、食品などの対象物を内蔵し、該負イオン発生器から発生した負イオンを含む空気が導入される所定空間とを備え、該負イオンを含む空気が接する該所定空間内の表面を帯電し難い材料、導電性を有す材料、もしくは親水性を有す材料のいずれかで構成したことを特徴とする負イオンシステム。

IPC (3件)：

A61L 9/22 ,  A23L 3/32 ,  F25D 23/00 302

FI (3件)：

A61L 9/22 ,  A23L 3/32 ,  F25D 23/00 302 M

Fターム (8件)：

4B021LT01 ,  4B021LT08 ,  4C080AA09 ,  4C080BB05 ,  4C080HH02 ,  4C080KK02 ,  4C080MM40 ,  4C080QQ17