特許

J-GLOBAL ID：200903060813509065

多重反射飛行時間型質量分析計及びその使用方法

発明者： ヴェレンチコフ,アナトリ,エヌ. ,  ヤヴォー,ミハイル ,  ミッチェル,ジョエル,シィ. ,  アルタエフ,ヴィアチェスラヴ
出願人/特許権者： レコ コーポレイション
代理人 (2件)： 斎藤 侑 ,  伊藤 文彦
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-517431
公開番号（公開出願番号）：特表2007-526596
出願日： 2004年06月18日
公開日（公表日）： 2007年09月13日
要約：

【解決手段】 多重反射飛行時間型質量分析計(MR-TOF MS)及び分析方法を開示する。イオンの飛行経路が、静電ミラーによって軌道に沿って折り返される。適度な機器サイズを維持しながら飛行経路が長いほど分解能が高くなる。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

多重反射飛行時間型質量分析計(MR-TOF MS)であって、 パルスイオン源と、 イオンレシーバと、 実質的にシフト方向に延びた2個の平行グリッドレスイオンミラーからなる組と、 前記ミラー間のドリフト空間とを含み、

IPC (5件)：

H01J 49/40 ,  H01J 49/10 ,  H01J 49/06 ,  H01J 49/42 ,  G01N 27/62

FI (6件)：

H01J49/40 ,  H01J49/10 ,  H01J49/06 ,  H01J49/42 ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 E

Fターム (24件)：

2G041CA01 ,  2G041CA02 ,  2G041DA04 ,  2G041DA05 ,  2G041DA09 ,  2G041DA13 ,  2G041DA14 ,  2G041DA16 ,  2G041DA18 ,  2G041GA03 ,  2G041GA06 ,  2G041GA07 ,  2G041GA08 ,  2G041GA09 ,  2G041GA26 ,  2G041HA01 ,  2G041HA02 ,  2G041KA01 ,  5C038FF10 ,  5C038GG01 ,  5C038GG06 ,  5C038GG07 ,  5C038GG08 ,  5C038GG09

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 米国特許第4,072,862号公報
  

審査官引用 (2件)

• 特開昭57-044953
  
• 飛行時間型質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-319940   出願人：日本電子株式会社