特許
J-GLOBAL ID：200903060815376976
DNAマイクロアレイのデータを統計的に分析する際の画像測定法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
大庭 咲夫
, 加藤 慎治
, 小林 洋平
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-555440
公開番号（公開出願番号）：特表2004-500564
出願日： 2001年01月26日
公開日（公表日）： 2004年01月08日
要約：
DNAマイクロアレイを使用して発現をプロファイルすることは、細胞の生理を分析するのに重要な新しい方法である。「スポットされた」マイクロアレイにおいて、試験細胞と対照細胞由来の蛍光で標識したcDNAを、配列された標的DNAとハイブリッドを形成させ、次いでその配列に、二つ以上の波長で画像を形成させる。統計的方法が、マイクロアレイの画像に実施され、そして非付加的バックグランド、スポット間の高い強度の変動および製作時のアーチファクトが強度の情報の正確な確認を損うことを示す。画像の画素単位の分析によって得られる確率密度の分布を使用して、スポットの強度が測定される精度を測定できる。これらの確率分布に基づいた単純な重みづけ法は、マイクロアレイのデータがマルチ試験のデータベースに蓄積するので、マイクロアレイのデータの質を有意に改善するのに有効である。画像ベースの測定法からの誤差推定値は、DNAマイクロアレイデータ分析のための明白な確率論的方法の一成分でなければならない。
請求項（抜粋）：
最小二乗法曲線あてはめの範囲内に入る画像内の複数のスポットを選択し、次いで
前記曲線あてはめ法の範囲内のスポットの定バックグランド強度を測定する、ことを含んでなる画像のバックグランド強度の測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N33/53 M
, G01N37/00 102
