特許

J-GLOBAL ID：200903060884607904

ATM試験方式

発明者： 兵頭 竜二 ,  江田 晋 ,  大室 勝美 ,  関端 理 ,  田中 堅二 ,  八田 裕之 ,  古家 礼子
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 小林 隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-268229
公開番号（公開出願番号）：特開平5-083291
出願日： 1991年09月19日
公開日（公表日）： 1993年04月02日
要約：

【要約】【目的】 本発明はATM多重伝送装置等の通信装置のATMクロスコネクト処理部に用いられる入側/出側FIFOメモリの負荷試験等を行うためのATM試験方式に関するものであり、負荷試験などのATM試験を小さな装置規模で簡単に行えるようにすることを目的とする。【構成】 ATMクロスコネクト処理部の入側および/または出側のFIFOメモリに強制的に擬似負荷セルを書き込む書込み手段121 〜12M を設け、ATM試験時に書込み手段によって試験対象のFIFOメモリに擬似負荷セルを書き込んでそのFIFOメモリの負荷試験を行うようにしたものである。

請求項（抜粋）：

ATMクロスコネクト処理部の入側および/または出側のFIFOメモリ(11・・・)に強制的に擬似負荷セルを書き込む書込み手段(12・・・)を設け、ATM試験時に該書込み手段によって試験対象のFIFOメモリに擬似負荷セルを書き込んでFIFOメモリの負荷試験を行うようにしたATM試験方式。

IPC (5件)：

H04L 12/48 ,  H04J 3/00 ,  H04J 3/14 ,  H04L 12/26 ,  H04Q 11/04

FI (4件)：

H04L 11/20 Z ,  H04L 11/12 ,  H04Q 11/04 R ,  H04Q 11/04 L

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特開平2-113743