特許

J-GLOBAL ID：200903060934232877

金属缶内面被膜の欠陥検査方法と装置

発明者： 小長谷 裕二 ,  伊藤 健 ,  西田 修三
出願人/特許権者： 東洋製罐株式会社
代理人 (1件)： 周藤 悦郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-250491
公開番号（公開出願番号）：特開平6-074941
出願日： 1992年08月27日
公開日（公表日）： 1994年03月18日
要約：

【要約】【目的】全数検査に適用することが可能な、シームレス金属缶の内面有機被膜層の欠陥検査方法、および自動的に高速で全数検査を行なうことができる上記の欠陥検査装置を提供する。【構成】シ-ムレス金属缶11の全内面に先端部近傍が接触可能の導電性ブラシを10を金属缶11内に挿入し、金属缶の開口部端面11aに電極片30を接触させる。導電性ブラシ10と電極片30間に高圧直流電圧を印可しながら、導電性ブラシ10と金属缶11を相対回転し、導電性ブラシ10と電極片30間に流れる電流に基づいて内面有機被膜層の欠陥を判別する。

請求項（抜粋）：

少なくとも内面が有機被膜層で被覆されたシ-ムレス金属缶の内面有機被膜層の欠陥検査方法において、実質的にシ-ムレス金属缶の全内面に先端部近傍が接触可能の導電性ブラシをシ-ムレス金属缶内に挿入し、金属缶の開口部端面に電極片を接触させて、導電性ブラシと電極片間に高圧直流電圧を印可しながら、導電性ブラシとシ-ムレス金属缶を相対回転し、導電性ブラシと電極片間に流れる電流に基づいて内面有機被膜層の欠陥を判別することを特徴とする、シ-ムレス金属缶の内面有機被膜層の欠陥検査方法。

IPC (3件)：

G01N 27/92 ,  B65D 1/28 ,  G01N 27/20

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭63-011850
  
• 特開昭62-242848
  
• 特開昭53-069690
  
• 特公平3-030104