チップ部品の電気特性測定方法並びにチップ部品の電気特性測定端子及びこれを用いた電気特性測定装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：吉田精孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-337254
公開番号（公開出願番号）：特開平10-177045
出願日： 1996年12月17日
公開日（公表日）： 1998年06月30日
要約：

【要約】【課題】塵や埃の影響を受けずに高精度に電気特性を測定できるチップ部品の電気特性測定方法並びにチップ部品の電気特性測定端子及びこれを用いた電気特性測定装置を提供する。【解決手段】チップ部品1の上面の両端部のそれぞれの辺に接するように、且つ外部電極1aに電気的に導通するようにそれぞれの外部電極1aに対応して設けた電極片413a,413bを当接し、この状態で電極片413a,413bとチップ部品1とを相対的に移動して、電極片413a,413bの当接面上の接触位置を移動すると共に、チップ部品1に対して電極片413a,413bを介して通電し、チップ部品の電気特性を測定する。

請求項（抜粋）：

直方体形状の素体の両端部に外部電極を備えたチップ部品の電気特性測定方法において、前記チップ部品の一の面の両端部のそれぞれの辺に接するように、且つ外部電極に電気的に導通するようにそれぞれの外部電極に対応して設けた測定用電極片を当接し、この状態で、前記測定用電極片上の接触位置を移動すると共に、前記チップ部品に対して前記測定用電極片を介して通電し、前記チップ部品の電気特性を測定することを特徴とするチップ部品の電気特性測定方法。

IPC (3件)：

G01R 27/02 , G01R 1/073 , G01R 31/00

FI (3件)：

G01R 27/02 R , G01R 1/073 B , G01R 31/00

引用特許：

出願人引用 (3件)

特開昭63-172969
特開昭63-263471
特開平2-116761

審査官引用 (3件)

特開昭63-172969
特開昭63-263471
特開平2-116761

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