特許

J-GLOBAL ID：200903060982814470

多次元座標測定機

発明者： 荒井 治
出願人/特許権者： 株式会社ニコン
代理人 (1件)： 木内 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-352073
公開番号（公開出願番号）：特開平9-178462
出願日： 1995年12月26日
公開日（公表日）： 1997年07月11日
要約：

【要約】【課題】 測定操作が簡単で、誤操作による形状の誤認識を防止し、多種類の形状を自動認識可能で、かつ測定項目を任意に追加可能な多次元座標測定機を提供すること。【解決手段】 被測定物と検出子とを相対移動させて被測定物の形状を測定する多次元座標測定機において、検出子により検出される被測定物の各測定点の測定値を取り込む測定値取り込み部21と、測定点数を計数する測定点数計数部22と、測定点数と測定点数に対応する測定項目の複数の組合わせを示す測定項目対応表のデータが記憶されたメモリ23と、測定点数に対応する測定項目を測定項目対応表に基づいて決定する測定項目決定部24と、測定項目決定部により決定された測定項目を、測定項目に対応する計算手順と測定値とに基づいて演算する形状演算部25とを備える。

請求項（抜粋）：

被測定物と検出子とを相対移動させて被測定物の形状を測定する多次元座標測定機において、前記検出子により検出される前記被測定物の各測定点の測定値を取り込む測定値取り込み部と、測定点数を計数する測定点数計数部と、前記測定点数に対応し、測定形状を示す測定項目と、前記測定項目の測定形状に対応する計算手順とが記憶された記憶手段と、前記測定点数計数部により計数された測定点数に応じて前記測定項目の測定形状に対応する計算手順を決定する決定部と、前記決定部により決定された計算手順と、前記測定値取り込み部で取り込まれた測定値とに基づいて前記被測定物の形状を演算する形状演算部とを備えていることを特徴とする多次元座標測定機。