特許
J-GLOBAL ID：200903061100663192
形状測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-102752
公開番号（公開出願番号）：特開平5-296745
出願日： 1992年04月22日
公開日（公表日）： 1993年11月09日
要約：
【要約】【目的】形状測定を短時間で行うことが可能な形状測定装置を提供することにある。【構成】複数のLED2...を任意に選択しながらはんだSを異なる角度から照明し、はんだSの表面で正反射した光を撮像し、得られた画像から正反射光の像の位置を求めてはんだSの3次元形状を測定する形状測定装置において、LED2...を複数個同時に点灯させてはんだSを帯状に照明し、得られた画像を格子状に分割して複数の画像領域を形成し、各画像領域に予め決められたはんだSの部分的な傾き情報を対応させ、各画像領域の明るさと傾き情報とを基にはんだSの形状を演算する。
請求項（抜粋）：
複数の光源を任意に選択しながら測定対象物を異なる角度から照明し、上記測定対象物の表面で正反射した光を撮像し、得られた画像から正反射光の像の位置を求めて上記測定対象物の3次元形状を測定する形状測定装置において、上記光源を複数個同時に点灯させて上記測定対象物を帯状に照明し、得られた画像を格子状に分割して複数の画像領域を形成し、各画像領域に予め決められた上記測定対象物の部分的な傾き情報を対応させ、上記各画像領域の明るさと上記傾き情報とを基に上記測定対象物の形状を演算することを特徴とする形状測定装置。
IPC (4件)：
G01B 11/24
, B23K 1/00
, G06F 15/70 335
, H05K 3/34
