特許

J-GLOBAL ID：200903061113875318

穀粒状態認識方法

発明者： 野田 博行 ,  後藤 恒義 ,  荒井 広志
出願人/特許権者： 財団法人テクノポリス財団 ,  株式会社山本製作所
代理人 (1件)： 中島 淳 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-329318
公開番号（公開出願番号）：特開平9-166560
出願日： 1995年12月18日
公開日（公表日）： 1997年06月24日
要約：

【要約】【課題】 効率的に米等の穀粒の劣化状態及び品種等の状態を認識する。【解決手段】 電子スピン共鳴(以下、ESR)装置を用いて、米を所定の数(3〜5粒)だけ試験管に採り、ESRスペクトルを測定し、得られたスペクトルから相対強度比を求め、これに基づいて各種特性状態を認識する。

請求項（抜粋）：

所定の磁場で、抽出された穀粒サンプルにマイクロ波を照射して得られる電子スピン共鳴(以下、ESR)信号強度に基づいて統計的に、少なくとも刈取り適期、搗精度、品種、経時状態変化を含む穀粒の状態を認識することを特徴とする穀粒状態認識方法。