特許

J-GLOBAL ID：200903061138854269

試料チップのハイブリダイジング方法及びディハイブリダイジング方法

発明者： 米田 英克 ,  佐藤 高遠
出願人/特許権者： 日本レーザ電子株式会社
代理人 (1件)： 伊藤 研一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-166710
公開番号（公開出願番号）：特開2001-343384
出願日： 2000年06月02日
公開日（公表日）： 2001年12月14日
要約：

【要約】【課題】DNAプローブと解析用DNAとを短時間にハイブリダイズ及びディハイブリダイズして遺伝子発現態様の解析を効率的に行うことができる試料チップのハイブリダイジング方法及びディハイブリダイジング方法を提供する。低濃度の解析用DNAを使用して解析作業を高精度に行うことができると共に解析コストを低減することができる試料チップのハイブリダイジング方法及びディハイブリダイジング方法を提供する。【解決手段】試料チップに微小間隔をおいて配列固定された多数の試料プローブに対して解析用試料をハイブリダイズする。その際、第1電極上にセットされた試料チップを加熱した状態で第1電極及び該第1電極に対して所定の間隔をおいて相対配置される第2電極間に電圧を印加して第1電極上にセットされた試料チップの試料プローブを(+)電荷に帯電させると共に両者間の解析用試料を(-)電荷に帯電させて解析用試料を試料プローブに誘電吸着させる。

請求項（抜粋）：

試料チップに微小間隔をおいて配列固定された多数の試料プローブに対して解析用試料をハイブリダイズする際に、第1電極上にセットされた試料チップを加熱した状態で第1電極及び該第1電極に対して所定の間隔をおいて相対配置される第2電極間に電圧を印加して第1電極上にセットされた試料チップの試料プローブを(+)電荷に帯電させると共に両者間の解析用試料を(-)電荷に帯電させて解析用試料を試料プローブに誘電吸着させる試料チップのハイブリダイジング方法。

IPC (5件)：

G01N 33/53 ,  C12N 15/09 ,  C12Q 1/68 ,  G01N 33/566 ,  G01N 37/00 102

FI (6件)：

G01N 33/53 M ,  C12Q 1/68 A ,  G01N 33/566 ,  G01N 37/00 102 ,  C12N 15/00 A ,  C12N 15/00 F

Fターム (20件)：

4B024AA11 ,  4B024AA20 ,  4B024CA01 ,  4B024CA09 ,  4B024CA11 ,  4B024HA14 ,  4B024HA19 ,  4B063QA01 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ42 ,  4B063QQ52 ,  4B063QR32 ,  4B063QR35 ,  4B063QR56 ,  4B063QR84 ,  4B063QS03 ,  4B063QS34 ,  4B063QS39 ,  4B063QX02 ,  4B063QX07