特許

J-GLOBAL ID：200903061202923113

落射蛍光顕微鏡

発明者： 大瀧 達朗 ,  豊田 修治
出願人/特許権者： 株式会社ニコン
代理人 (1件)： 山口 孝雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-059948
公開番号（公開出願番号）：特開平8-234110
出願日： 1995年02月23日
公開日（公表日）： 1996年09月13日
要約：

【要約】【目的】 特殊な特性を有するダイクロイックミラーを使用することなく、落射蛍光観察法と光ピンセット法とが可能な落射蛍光顕微鏡を提供すること。【構成】 本発明においては、励起光照射光学系と、観察光学系と、光ピンセット手段とを備えた落射蛍光顕微鏡において、前記励起光照射光学系は、励起光を供給するための第1光源と、前記観察光学系の光路中に配置され、前記第1光源からの励起光を標本へ導くとともに前記標本からの蛍光を前記観察光学系の光路へ導く第1波長分別手段とを有し、前記光ピンセット手段は、レーザー光を供給するための第2光源と、前記観察光学系の光路中に配置され、前記第2光源からのレーザー光を前記標本へ導くとともに前記標本からの蛍光を前記観察光学系の光路へ導く第2波長分別手段とを有する。

請求項（抜粋）：

落射蛍光観察用の励起光を標本に照射するための励起光照射光学系と、前記励起光に対する標本からの蛍光を対物レンズを介して結像させ前記標本の像を観察するための観察光学系と、前記標本の所定位置にレーザー光を集光して前記標本中の物体を前記所定位置で光学的に捕捉するための光ピンセット手段とを備えた落射蛍光顕微鏡において、前記励起光照射光学系は、前記励起光を供給するための第1光源と、前記観察光学系の光路中に配置され、前記第1光源からの励起光を前記標本へ導くとともに前記標本からの蛍光を前記観察光学系の光路へ導く第1波長分別手段とを有し、前記光ピンセット手段は、前記レーザー光を供給するための第2光源と、前記観察光学系の光路中に配置され、前記第2光源からのレーザー光を前記標本へ導くとともに前記標本からの蛍光を前記観察光学系の光路へ導く第2波長分別手段とを有することを特徴とする落射蛍光顕微鏡。

IPC (5件)：

G02B 21/00 ,  G02B 21/16 ,  G02B 21/18 ,  G02B 21/32 ,  G02B 21/36

FI (5件)：

G02B 21/00 ,  G02B 21/16 ,  G02B 21/18 ,  G02B 21/32 ,  G02B 21/36