特許
J-GLOBAL ID：200903061215633432
複合データを解釈して異常な器機または処理挙動を検出する改良法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
斉藤 武彦
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-518644
公開番号（公開出願番号）：特表平8-500898
出願日： 1993年04月16日
公開日（公表日）： 1996年01月30日
要約：
【要約】1組の多変量データ(たとえばクロマトグラフまたはスペクトル)が異常値である時を決定するための改良法か提供される。この方法は、主要成分分析のような方法を使用して、正常であることの知られている校正組のスペクトルまたはクロマトグラフを記述するモデルを作ること、およびこのモデルによって記述されない特定のスペクトルまたはクロマトグラフの残差を記述する残差を作ること、を包含する。その改良は、モデルの起源よりもむしろ校正組の計算された平均残差スペクトルを使用して、未知試料からえられるスペクトルまたはクロマトグラフを比較することからなる。本発明はまた、複合組のデータを種々のサブ部分たとえばサブ・クロマトグラフまたはサブ-スペクトルに分離して、サブ部分中の部外をより容易に検出しうるようにすることを包含する。1つの特性の具体例において、本発明はクロマトグラフをピーク情報、ベースライン形状、ベースライン・オフセット、およびノイズのサブ部分に分割する方法に関する。
請求項（抜粋）：
校正組のモデルを作るのに使用する及び該モデルによって記述されない校正組(calibration set)のそれぞれのメンバーの部分を記述する残差を作るのに使用する種類の方法の異常値を決定するために多変量データを検査する方法において、 (a)キャリブレーション組メンバーのすべての残差を平均することによって平均残差を作り; (b)校正組のそれぞれのメンバーの残差を平均残差との間の距離を決定し; (c)未知試料からえられる残差と平均残差との間の距離を決定し; (d)工程(c)でえられる距離が工程(b)で決定された組の距離と統計的に異なるすべての試料を異常値として標識する、諸工程からなる改良を含むことを特徴とする方法。
引用特許：
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