特許

J-GLOBAL ID：200903061225377868

超音波探傷による欠陥識別方法

発明者： 湯浅 芳郎 ,  塚本 繁雄 ,  春海 佳三郎 ,  豊岡 康雄 ,  松本 曜明 ,  折本 学
出願人/特許権者： 関西電力株式会社 ,  バブコック日立株式会社
代理人 (1件)： 鵜沼 辰之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-155027
公開番号（公開出願番号）：特開平9-005307
出願日： 1995年06月21日
公開日（公表日）： 1997年01月10日
要約：

【要約】【目的】 検出された欠陥の先端形状を識別し欠陥の重要度判断を可能とすることにある。【構成】 探触子2から被検体であるテストピース3中の欠陥4に向けて発射された超音波は、欠陥4の端部で反射後、探触子2に捉えられ、この信号は探傷器1により端部エコーとして表示され認識される。事前に求めた欠陥先端形状と端部エコー音圧レベル(探傷器1の感度)の関係から、先端の鋭利なものと先端に曲率のあるもの(亀裂進展性大のものと亀裂進展性小のもの)とを判定する為のしきい値を求めておき、これとテストピース3からの端部エコー音圧レベルとの比較を行う事により欠陥先端形状の識別判定を行う。【効果】 被検体欠陥の先端形状を識別し欠陥の重要度判断を可能とする効果が得られる。

請求項（抜粋）：

探触子から超音波を被検体に発信し欠陥部から反射するエコーを受信して欠陥を識別する超音波探傷による欠陥識別方法において、予めモデル欠陥形状と該モデル欠陥の端部エコー音圧レベルとの関係を表す特性式を求め、前記被検体の端部エコー音圧レベルを測定し、前記特性式に導入し欠陥形状を識別することを特徴とする超音波探傷による欠陥識別方法。

IPC (2件)：

G01N 29/10 505 ,  G01N 29/22 504

FI (2件)：

G01N 29/10 505 ,  G01N 29/22 504