特許

J-GLOBAL ID：200903061228225759

検査データ作成方法

発明者： 高松 輝賢 ,  中島 真炳
出願人/特許権者： 株式会社シム
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-198235
公開番号（公開出願番号）：特開2001-024321
出願日： 1999年07月12日
公開日（公表日）： 2001年01月26日
要約：

【要約】【課題】 検査対象の検査データを作業者が一つ一つ登録しなければならず、膨大な作業工数を要していた。【解決手段】 各部品A,B,C,Dの種類ごとに、該部品A,B,C,Dの検査情報を記憶しておき、基板Pを撮像して基板画像を獲得し、該基板画像から部品A,B,C,Dの電極部分A1,B1,C1,D1を示す電極画像を抽出し、抽出された電極画像に基づいて各部品の位置および種類を決定し、決定された部品A,B,C,Dの位置に、当該部品A,B,C,Dの種類に対応する前記検査情報を合成することにより、基板の検査データを作成する。

請求項（抜粋）：

複数の部品を搭載した基板の検査データを作成する方法であって、各部品の種類ごとに、該部品の検査情報を記憶しておき、前記基板を撮像して基板画像を獲得し、該基板画像から部品の電極部分を示す電極画像を抽出し、抽出された電極画像に基づいて各部品の位置および種類を決定し、決定された部品の位置に、当該部品の種類に対応する前記検査情報を合成することにより、基板の検査データを作成することを特徴とする検査データ作成方法。

IPC (2件)：

H05K 3/34 512 ,  H05K 13/08

FI (2件)：

H05K 3/34 512 A ,  H05K 13/08 D

Fターム (5件)：

5E319AB05 ,  5E319AB06 ,  5E319CD51 ,  5E319CD53 ,  5E319GG15