特許
J-GLOBAL ID：200903061277513018
積層セラミックコンデンサの検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡田 全啓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-036729
公開番号（公開出願番号）：特開平11-219870
出願日： 1998年02月02日
公開日（公表日）： 1999年08月10日
要約：
【要約】【課題】 確実に積層セラミックコンデンサの向きを判別することができる積層セラミックコンデンサの検査方法を得る。【解決手段】 積層セラミックコンデンサ10は、積層された内部電極層の存在する部分が盛り上がった形状となるため、吸引チャックなどで実装作業を行うとき、平坦な側面を吸引チャックで保持することが好ましい。そのため、強誘電性材料で形成された誘電体層と内部電極層とを積層した積層体12の側面にピン20で圧力を印加し、外部電極18間の静電容量を測定することにより、積層セラミックコンデンサ10の向きを判別する。歪みのある側面に圧力を印加すると、静電容量が減少し、平坦な側面に圧力を印加すると、静電容量が増加する。
請求項（抜粋）：
強誘電性材料で形成された誘電体層と内部電極層とを積層した積層体を含む積層セラミックコンデンサの向きを判別するための積層セラミックコンデンサの検査方法であって、前記内部電極層の面に平行な向きまたは直交する向きに、前記積層体に圧力を印加しながら前記積層セラミックコンデンサの静電容量を測定し、前記圧力の印加前に対する前記静電容量の変化から前記積層セラミックコンデンサの向きが判別される、積層セラミックコンデンサの検査方法。
IPC (2件)：
H01G 13/00 361
, G01R 31/00
H01G 13/00 361 B
, G01R 31/00
