特許
J-GLOBAL ID：200903061289149753
液晶装置及びその検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴木 喜三郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-179907
公開番号（公開出願番号）：特開2001-005016
出願日： 1999年06月25日
公開日（公表日）： 2001年01月12日
要約：
【要約】【課題】 液晶パネルの基板張出し部におけるIC実装領域の周辺部分の面積が狭い場合でも信頼性の高い検査を行うことができるようにし、しかも検査用接触コネクタと配線パターンとの接触信頼性を向上する。【解決手段】 液晶表示領域を形成する電極9a及び9bにつながる配線パターン15が形成された基板張出し部4cの上にICチップ3を実装して、配線パターン15とバンプ21とを導電接続する構造の液晶装置1である。配線パターン15はバンプ21と接続する部分を越えてIC実装領域Jの内部へ延びる延在部分15bを有し、それらの延在部分15bは少なくとも2つの群に分離して形成される。検査の際には、分離した各群に検査用接触コネクタを接触させて各電極に表示用信号を供給して液晶表示領域に検査用映像を表示する。
請求項（抜粋）：
互いに対向する一対の基板であって一方の基板が他方の基板の外側へ張り出す基板張出し部を有する一対の基板と、前記一対の基板の少なくとも対向する側の面にそれぞれ形成される電極と、前記一対の基板の間に封止される液晶と、前記基板張出し部に実装されると共にその実装面に複数のIC側端子を備えたICチップと、前記基板張出し部に形成されると共に前記電極のそれぞれに導電接続される配線パターンとを有する液晶装置において、前記基板張出し部に形成される配線パターンは前記IC側端子と導電接続する部分を越えて、前記ICチップが実装される領域であるIC実装領域の内部へ延びる延在部分を有し、それらの延在部分は少なくとも2つの群に分離して形成されることを特徴とする液晶装置。
Fターム (19件)：
2H092GA48
, 2H092GA49
, 2H092GA50
, 2H092GA51
, 2H092GA55
, 2H092GA57
, 2H092GA60
, 2H092HA26
, 2H092JB77
, 2H092MA57
, 2H092NA14
, 2H092NA25
, 2H092NA27
, 2H092NA29
, 2H092NA30
, 2H092PA01
, 2H092PA03
, 2H092PA06
, 2H092QA07
