特許
J-GLOBAL ID:200903061331574753

半導体レーザ装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 早瀬 憲一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-315717
公開番号(公開出願番号):特開平7-170022
出願日: 1993年12月16日
公開日(公表日): 1995年07月04日
要約:
【要約】【目的】 発光効率が高く,変調帯幅が広い半導体レーザ装置を得る。【構成】 多重量子井戸半導体レーザ装置において、バリア層13のエネルギーギャップを、MQWの中央で一番大きく、MQWの両端に向かって順次小さくなるものとする。また、バリア層13の厚さは、MQW中央で一番厚く、MQWの両端に向かって順次薄くなるものとする。また、バリア層13を基板よりその格子定数を小さくしてバリア層に引張り歪を加え、そのエネルギーギャップがMQW中央で一番大きく、MQWの両端に向かって順次小さくなるものとする。また、バリア層13に引張り歪を加え、その厚さを、MQW中央で一番厚く、MQWの両端に向かって順次薄くなるものとする。また、バリア層の引張り歪量を、MQW中央で一番小さく、MQWの両端に向かって順次大きくなるものとする。
請求項(抜粋):
半導体レーザ装置において、複数のウェル層と、該複数のウェル層間に配置されたバリア層とからなる多重量子井戸(MQW)構造の活性層を有し、上記バリア層のエネルギーギャップは、上記MQWの中央で一番大きく、MQWの両端に向かって順次小さくなるものであることを特徴とする半導体レーザ装置。
IPC (2件):
H01S 3/18 ,  H01S 3/103

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