特許

J-GLOBAL ID：200903061351333795

同時較正不均質イムノアツセイ

発明者： デビツド・ジエイ・リトマン ,  エドウイン・フツシヤー・ウルマン
出願人/特許権者： シバ・カンパニー
代理人 (1件)： 小田島 平吉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-261174
公開番号（公開出願番号）：特開平5-209886
出願日： 1983年05月02日
公開日（公表日）： 1993年08月20日
要約：

【要約】【構成】 支持体、多孔質材料の測定第1表面:該第1表面の近傍の多孔質材料の較正第2表面;該第1表面に非拡散的に結合した特異的結合対員;及び該第2表面に非拡散的に結合した酵素又はmipの少なくとも1つ、を含むことを特徴とする内部較正式の診断装置。【効果】 較正表面(基準表面)が測定表面に近接して設けられているため、測定表面と較正表面とが同時に同様の測定状条の影響(温度時間、異物など)を受けるので、外因による測定誤差が生じない。

請求項（抜粋）：

支持体、多孔質材料の測定第1表面;該第1表面の近傍の多孔質材料の較正第2表面;該第1表面に非拡散的に結合した特異的結合対員;及び該第2表面に非拡散的に結合した酵素又はmipの少くとも1つ、を含むことを特徴とする内部較正式の診断装置。

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭54-086611
  
• 特開昭57-063454