特許
J-GLOBAL ID:200903061405560180
高融点金属層のCVD方法およびそのCVD装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
高橋 光男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-062805
公開番号(公開出願番号):特開平7-273046
出願日: 1994年03月31日
公開日(公表日): 1995年10月20日
要約:
【要約】【目的】 ブランケットCVDにより、W等高融点金属層を接続孔内に埋め込む際のボイドを防ぎ、表面モホロジを改善するCVD方法および装置を提供する。【構成】 接続孔3を含む被処理基板上全面に1×1011〜1×1013/cm3の高密度プラズマCVD装置により、基板バイアスを印加しながら高融点金属層6を堆積する。プラズマCVD前に、同一チャンバ内で希ガスによるスパッタ前処理を施しTi層4とTiN層5のオーバーハング部分の形状修正を行ってから高融点金属層6を堆積してもよい。【効果】 ソースガスは反応性の高い活性種となるのでWの成長核が均一に形成され、高アスペクト比の接続孔内部でも成長速度が均一となり、ボイド発生は防止される。また表面マイグレーション効果を利用して平滑な表面を形成できる。
請求項(抜粋):
被処理基板にRFバイアスを印加しつつ、プラズマCVD法により高融点金属層を形成することを特徴とする、高融点金属層のCVD方法。
IPC (3件):
H01L 21/205
, H01L 21/285 301
, H01L 21/768
引用特許:
審査官引用 (5件)
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薄膜の形成方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-301028
出願人:ソニー株式会社
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特開平3-047965
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特開平1-298725
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特開平3-264674
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特開平3-264672
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